隨著集成電路封裝技術(shù)向高密度、高性能方向發(fā)展，鍵合線的可靠性問題日益成為影響封裝質(zhì)量的關(guān)鍵因素。銀線、銅線以及各類合金鍵合線因其優(yōu)異的導(dǎo)電性、導(dǎo)熱性和成本優(yōu)勢，在IC封裝領(lǐng)域得到了廣泛應(yīng)用。
然而，這些鍵合線在熱機械應(yīng)力、電遷移等作用下可能出現(xiàn)斷裂、剝離等失效現(xiàn)象，直接影響器件的長期可靠性。本文科準(zhǔn)測控小編將詳細(xì)介紹鍵合線失效分析的原理、測試標(biāo)準(zhǔn)、儀器特點及完整測試流程，助力企業(yè)解決封裝可靠性難題。
一、鍵合線失效分析原理
鍵合線失效機理主要涉及以下幾種模式：
機械斷裂失效：鍵合線在循環(huán)應(yīng)力作用下產(chǎn)生疲勞裂紋并最終斷裂
界面剝離失效：鍵合線與焊盤間的金屬間化合物(IMC)層生長導(dǎo)致結(jié)合強度下降
頸縮斷裂失效：鍵合線在高溫下發(fā)生蠕變導(dǎo)致局部截面縮小而斷裂
腐蝕失效：環(huán)境因素導(dǎo)致鍵合線表面腐蝕而強度降低
推拉力測試通過模擬這些失效模式，定量評估鍵合線的機械可靠性。測試基本原理是：
鍵合強度 = 最大破壞力 / 鍵合接觸面積
二、測試標(biāo)準(zhǔn)
三、檢測設(shè)備
1、Alpha W260推拉力測試機
Alpha W260推拉力測試機是專為微電子封裝可靠性測試設(shè)計的高精度設(shè)備，特別適合紅外探測器芯片的測試需求：
1、設(shè)備特點
高精度：全量程采用自主研發(fā)的高精度數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，確保測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。
功能性：支持多種測試模式，如晶片推力測試、金球推力測試、金線拉力測試以及剪切力測試等。
操作便捷：配備專用軟件，操作簡單，支持多種數(shù)據(jù)輸出格式，能夠wan美匹配工廠的SPC網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng)。
2、多功能測試能力
支持拉力/剪切/推力測試
模塊化設(shè)計靈活配置
3、智能化操作
自動數(shù)據(jù)采集
SPC統(tǒng)計分析
一鍵報告生成
4、安全可靠設(shè)計
獨立安全限位
自動模組識別
防誤撞保護
5、夾具系統(tǒng)
多種規(guī)格的剪切工具（適用于不同尺寸焊球）
鉤型拉力夾具
定制化夾具解決方案
四、測試流程
步驟一、樣品準(zhǔn)備
按標(biāo)準(zhǔn)要求取樣（通常≥30個鍵合點）
清潔樣品表面污染物
定位標(biāo)記待測鍵合點
步驟二、測試程序
剪切測試模式：
選擇合適剪切工具（通常為50μm刀口）
設(shè)置剪切高度（鍵合點高度+5μm）
以100-500μm/s速度推進至鍵合點破壞
步驟三、拉力測試模式
安裝匹配的拉力鉤具鉤住鍵合線弧頂
以0.1-10mm/min速度垂直拉伸至斷裂
步驟四、數(shù)據(jù)分析
原始數(shù)據(jù)篩選（剔除異常值）
Weibull分布分析
失效模式分類：
界面失效（低強度值）
線材斷裂（中等強度）
基板破壞（高強度值）
步驟五、報告生成
測試條件記錄（溫濕度、設(shè)備參數(shù)等）
統(tǒng)計結(jié)果（均值、標(biāo)準(zhǔn)差、CPK等）
失效模式比例分析
改進建議
五、典型失效案例分析
案例1：銅鍵合線高溫存儲后強度下降
現(xiàn)象：150℃/1000h后拉力值降低30%
分析：IMC層過度生長導(dǎo)致脆性斷裂
對策：優(yōu)化退火工藝，控制IMC厚度<2μm
案例2：合金鍵合線批量剪切失效
現(xiàn)象：剪切強度離散度大(CPK<1.0)
分析：焊盤污染導(dǎo)致界面結(jié)合不良
對策：加強前清洗工藝，增加等離子處理
以上就是小編介紹的有關(guān)于IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析的相關(guān)內(nèi)容了，希望可以給大家?guī)韼椭Ｈ绻€對IC封裝中銀線、銅線、合金線失效分析方法、測試報告和測試項目，推拉力測試機怎么使用視頻和圖解，使用步驟及注意事項、作業(yè)指導(dǎo)書，原理、怎么校準(zhǔn)和使用方法視頻，推拉力測試儀操作規(guī)范、使用方法和測試視頻，焊接強度測試儀使用方法和鍵合拉力測試儀等問題感興趣，歡迎關(guān)注我們，也可以給我們私信和留言。【科準(zhǔn)測控】小編將持續(xù)為大家分享推拉力測試機在鋰電池電阻、晶圓、硅晶片、IC半導(dǎo)體、BGA元件焊點、ALMP封裝、微電子封裝、LED封裝、TO封裝等領(lǐng)域應(yīng)用中可能遇到的問題及解決方案。
